Le micromètre optique compact avec contrôleur intégré, optoCONTROL 2520, se distingue par haute précision et installation flexible. Avec la nouvelle option de connexion, plusieurs micromètres peuvent être interconnectés afin de détecter des grands objets.
Le micromètre laser compact, optoCONTROL 2520, avec contrôleur intégré se laisse également combiner avec le contrôleur multifonction CSP2008 permettant ainsi de mesurer l'épaisseur et le diamètre de grands objets. Suite à leur enregistrement, les valeurs de mesure sont calculées par le micromètre optique dans le contrôleur. L'affichage du CSP2008 indique les valeurs des contrôleurs individuels et la mesure d'épaisseur. Jusqu'à six systèmes peuvent être connectés avec le CSP2008. L'interface web conviviale basée sur Ethernet simplifie la commande et l'intégration ainsi que l'accès à distance dans le processus de production. L'optoCONTROL 2520 se prête bien dans les divers champs d'applications de la surveillance de qualité et de la production.
