Avec la W4F, Sick lance sa nouvelle génération de cellule de détection photoélectrique miniature. Un nouveau circuit ASIC permet l’ajout de nombreuses fonctionnalités. A titre d’exemple, les capteurs peuvent détecter des objets d’un noir profond, ultra réfléchissants, plats et même transparents.
La W4F peut fournir des informations de distance par IO-Link permettant notamment de signaler des erreurs de processus. Grâce à la fonction Blue Pilot (outil d’alignement optique) et aux possibilités de surveillance innovantes, le réglage et la surveillance sont très simples. Cela représente un gain de temps précieux lors de la mise en service. La W4F Next Gen possède un boîtier Vistal ultra robuste offrant des fonctions de détection et des caractéristiques comparables à ceux que l’on ne connaissait jusqu’à présent que dans les gammes de produits supérieures W16 et W26 de chez Sick.
Optical Standard, Optical Expert – la solution de détection adaptée à chaque application
La gamme des W4F Next Gen couvre deux gammes d’applications avec un choix d’optique Standard ou Experte. Les capteurs Optical Standard sont disponibles en version émetteur-récepteur ou barrière réflex offrant chacune des portées très élevées ainsi qu’en version à réflexion directe avec élimination d’arrière-plan. Ils ont fait leurs preuves sur le terrain par leur polyvalence, leur compacité et leurs performances de haut vol pour la détection d’objets.
Une version à réflexion directe offre une géométrie de faisceau ultra-concentrée permettant au capteur de détecter les objets d’un noir profond avec un coefficient de rémission inférieur à un pour cent.
Pour les cas les plus extrêmes, les utilisateurs peuvent faire confiance aux Optical Expert. SICK a développé ces capteurs pour des applications spécifiques. Avec son spot lumineux similaire au laser et son optique en V, cette variante détecte avec fiabilité même des objets fortement réfléchissants ou transparents tels que les wafers ou les écrans.
Pour détecter avec fiabilité des objets minces ou des étiquettes, SICK propose un détecteur à réflexion directe équipé de deux LED et d’une élimination de premier plan.
Un détecteur à réflexion directe avec deux lignes lumineuses (DoubleLine) garantit une continuité du signal même lorsque les objets présentent des trous, des alésages ou des évidements.
Les détecteurs à réflexion directe avec indication de la distance et fonctionnalité MultiSwitch, peuvent surveiller le montage de composants dans les processus d’assemblage.
Lors de l’emballage des aliments, ils peuvent faire la différence entre les emballages verticaux et horizontaux, signaler des niveaux élevés ou surveiller les diamètres de rouleaux de film d’emballage, d’emballages ou d’étiquettes.
La mission de PEI est de fournir à ses lecteurs des informations sur les nouveaux produits et services liés au secteur de l'industrie et qui sont disponibles sur le marché français.
